Difractómetro Multi-Propósito PANalytical modelo X'Pert PRO MRD

Difractómetro orientado al análisis de películas delgadas, tensiones residuales y texturas. Está construido en torno a un goniómetro de alta resolución en configuración horizontal equipado con tubo de rayos X de Cu y una cuna euleriana como plataforma portamuestras.

Los módulos de óptica de haz incidente disponibles son:

- Rendija fija de divergencia
- Espejo de rayos X
- Colimador de foco puntual de rendijas cruzadas

Las ópticas de haz difractado disponibles son:

- rendijas de anti-scatter y de recepción programables con monocromador secundario curvo y detector proporcional sellado de Xe
- Colimador de haz paralelo con monocromador secundario plano

La plataforma portamuestras de este equipo es una cuna euleriana con movimientos programables de Phi, Psi,, X, Y, Z.

En este difractómetro se pueden llevar a cabo medidas de:

- Análisis de fases sobre muestras de diferentes forma y tamaños.
- Películas delgadas: análisis de fases por medidas en incidencia rasante.
- Reflectometría de rayos X.
- Texturas: medida de figuras de polos y cálculo de Funciones de Distribución de Orientaciones.
- Tensiones residuales, tanto a partir de medidas en Psi, como de medidas en Omega.
-Mapas del espacio reciproco de alta resolución con Monocromador primario K-alfa1