Centros de Asistencia a la Investigación

Microscopía Electrónica de Barrido (SEM)

La MEB es una técnica de análisis superficial, que consiste en enfocar sobre una muestra electrodensa (opaca a los electrones) un fino haz de electrones acelerado con energías de excitación desde 0.1kV hasta 50kV. El haz de electrones es producido por una fuente que puede ser un cañón termoiónico (filamento de tungsteno o de hexaboruro de lantano) o un cañón de emisión de campo FEG, de las siglas en inglés Field Emission Gun. Al cañón se le aplica un potencial eléctrico que acelera el haz de electrones a través de la columna, éste es focalizado por medio de lentes electromagnéticas sobre la muestra. Los electrones chocan e interactúan con la muestra produciendo varias señales que podrán ser recogidas de acuerdo a los detectores presentes.
Instrumentación
Personal
Xabier Arroyo Rey
CAI Ciencias de la Tierra y Arqueometría
Unidad de Técnicas Geológicas