JEM-3000F

El microscopio electrónico de transmisión JEM 3000F ofrece excelentes características para trabajos de alta resolución. Su resolución entre puntos alcanzable (0.17 nm) combinado con un giro de la muestra de ± 25º confieren a este equipo un gran potencial para el análisis y caracterización estructural de materiales. Tiene instalada una unidad STEM y detectores de campo oscuro de ángulo alto e intermedio (HAADF y LAADF). Desde el punto de vista analítico tiene acoplados un detector de XEDS y un espectrómetro ENFINA. La utilización conjunta de estos espectrómetros junto con la unidad de STEM y los detectores de campo oscuro asociados, permiten llevar a cabo caracterización química a nivel atómico.

Especificaciones técnicas
Voltaje de aceleración de 300 kV.
Cañón de electrones de emisión de campo tipo Schottky.
Resolución entre puntos de 0.17 nm en modo TEM y 0.14 nm en modo STEM. Cámara CCD multibarrido (1k x 1k) para la adquisición digital de las imágenes.
Sistema de microanálisis por XEDS (OXFORD INCA).
Espectrómetro ENFINA para EELS (resolución en energía de 1.3 eV).
En modo STEM cuenta con un detector ADF (GATAN) y un detector HAADF para la adquisición de imágenes de contraste Z.
El goniómetro permite ± 25o de inclinación de la muestra.
Portamuestras GATAN de doble inclinación y de bajo fondo (Be).