JEM ARM200CF: CON ABERRACIÓN CORREGIDA EN LA LENTE CONDENSADORA

El JEM-ARM200cF es un microscopio electrónico con capacidad de resolución atómica operando en modo TEM o STEM con voltajes de aceleración de 80 – 200 kV. Cuenta con un cañón de electrones de cátodo frío (Cold Field Emission Gun, CFEG) y un corrector de aberración esférica CEOS para el modo STEM, lo que permite obtener imágenes con resolución de hasta 78 pm.

El microscopio cuenta con detectores acoplados para realizar análisis químico mediante XEDS (energydispersive x-ray spectroscopy) y EELS (electron energy-loss spectroscopy) con resolución espectral de 0.3eV. Lo cual complementa las técnicas de microscopía de imagen en campo claro y campo oscuro (BF/DF) y contraste Z (HAADF).

Especificaciones técnicas
Cañón: Emisión de campo frio (tipo “Cold FEG”)
Voltaje de aceleración: de 80 kV a 200 kV. Alineación a 80, 100 y 200 KV
Resolución en energía a 200 kV: 0,3 eV
Estabilidad de la Alta Tensión: 0,5 ppm
Brillo a 200 kV: 1x109 A/cm2 sr
Lente Condensadora compuesta de tres lentes con corrector de aberración esférica. El control y alineamiento del corrector está integrado en el software de control del microscopio.
Apertura de la lente condensadora: Con 8 aperturas de tamaño variable
Lente Objetivo: Compuesta de dos lentes
Resolución
Modo TEM: 0,2 nm
Modo STEM: 0,08 nm
Modos de imagen
TEM:
Campo claro BF
Campo oscuro DF
STEM:
Detector BF
Detector DF
Detector HAADF (anular alto ángulo campo oscuro)
Detector BF (anular campo claro)
Goniómetro: Eucéntrico con motorización piezoeléctrica
Portamuestras de doble inclinación de bajo fondo