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JEM ARM300CFEG: con aberración corregida en la lente objetivo

El microscopio electrónico de transmisión, GRAND ARM300cFEG, equipado con corrector de aberración en la lente objetivo complementa al microscopio JEM ARM200cF también disponible en las instalaciones CNME-ELECMI. Mientras que el último está especialmente diseñado para obtener resolución atómica a nivel composicional el GRAND ARM300cFEG lo está para obtener resolución atómica estructural de 0.5 Å. Esto permite resolver problemas cristalográficos complejos a nivel atómico como también aquellas distorsiones de red o presencia de defectos puntuales que modifican las propiedades de los materiales, así como la visualización de átomos pequeños como H y Li.

La configuración de este microscopio permite trabajar a voltajes aún más bajos: 60 KV. Esto es crucial para la investigación de nuevos materiales electrónicos: poliméricos e híbridos de base orgánica que actualmente están experimentando un enorme interés para el desarrollo de antenas ópticas, LEDS, células solares y transistores.
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