AFM Microscopio de fuerzas atómicas

¿Qué tipo de información proporcionan estos equipos? Morfología de la superficie. Topografía con resolución sub-nanométrica. Medidas eléctricas (c‐AFM). Determinación de la Resistencia eléctrica local. Propiedades Mecánicas (QNM Peakforce). Mapas cuantitativos sobre las propiedades de elasticidad, adhesión, dureza, disipación de energía y deformación superficial. Potencial eléctrico local (KPM). Medidas cualitativas de la distribución local de carga. Propiedades magnéticas (MFM). Análisis de las propiedades magnéticas de la muestra bajo la acción de un campo magnético. Espectroscopía de fuerzas para medida de fuerzas inter e intra-moleculares, con una resolución de 1 pN. Propiedades electroquímicas (EC‐SPM). Estudio de reacciones electroquímicas en superficie bajo condiciones controladas. Propiedades piezo-eléctricas (PFM) Usando la punta de medida como electrodo de voltaje eléctrico y sensor de la deformación. Estudios a distintas temperaturas. Puede analizarse el comportamiento de la muestra entre los 250 K y los 500 K. Topografía basada en el microscopio de efecto túnel en condiciones ambientales.