Curso Bases y Aplicaciones de la difracción de polvo
Curso Bases y Aplicaciones de la difracción de polvo
Nos complace anunciaros que este año se celebra en Granada la 5ª edición del curso Bases y Aplicaciones de la difracción de polvo: Análisis cuantitativo, microestructural y método Rietveld, que organizamos desde el Laboratorio de Estudios Cristalográficos, y que tendrá lugar del 16 al 18 de septiembre de 2024. El curso forma parte del programa de Cursos de Alta Especialización del CSIC.
El objetivo principal de este curso intensivo es ofrecer una formación especializada en el uso de métodos de análisis avanzados de difracción de rayos X de polvo. Se pretende que el alumno adquiera conocimientos y, fundamentalmente, práctica en métodos de ajuste de perfil sin y con modelo estructural dirigidos a aplicaciones de interés científico e industrial.
Se hará especial énfasis en el análisis cuantitativo de fases cristalinas, cuantificación de fases amorfas, análisis microestructural y refinamiento por el método Rietveld, mediante el uso del software TOPAS.
Podréis encontrar información más detallada en el tríptico que os adjuntamos, así como en la web https://www.lec.csic.es/cursosxrd/
Os invitamos a participar y agradecemos vuestra colaboración en dar la máxima difusión a este curso.