Difractómetro Multi-propósito PANalytical modelo X'Pert MPD

Equipado con tubo de rayos X de Cu y dos goniómetros en configuración vertical th-2th, con óptica Bragg-Brentano (rendijas fijas, monocromador secundario curvo y detector proporcional sellado de Xe). Además, uno de los goniómetros incorpora de forma permanente una segunda óptica de haz difractado para trabajar en haz paralelo consistente en colimador de haz paralelo de 0.27º de aceptación, monocromador plano de grafito y detector proporcional sellado de Xe. La plataforma portamuestras instalada en el goniómetro de doble óptica es una plataforma multi-propósito. En el segundo goniómetro está instalada una plataforma multi-propósito adicional. Este difractómetro permite realizar análisis de fases convencional y en películas delgadas mediante la técnica de incidencia rasante. Además, se pueden realizar medidas de reflectometría de rayos X.