Difractómetro Rayos X de Alta Resolución (HRXRD): Malvern Panalytical Empyrean Series 3

-Difractómetro de última generación orientado al análisis avanzado de películas delgadas, piezas texturizadas y tensiones residuales. Construido en torno a un goniómetro de alta resolución en configuración horizontal con tubo de rayos X de Cu, incorpora una robusta plataforma automatizada de 5 ejes (cuna euleriana) para el posicionamiento y mapeado preciso de muestras complejas, piezas industriales y sustratos de diversas formas y tamaños.

-Equipado con la tecnología de automatización iCore y dCore, el sistema permite configurar múltiples caminos ópticos de forma motorizada y sin necesidad de desalineación o reajuste manual por parte del operador.

-Gracias a la incorporación de ópticas de alta resolución (monocromador de Ge) y tres sistemas de detección independientes (incluyendo tecnología de estado sólido de última generación), optimizamos nuestra cartera de servicios tradicionales ofreciendo ahora capacidades de alta resolución, máxima versatilidad y una calidad de datos drásticamente superior.

Ópticas de Haz Incidente:

-Módulo automatizado iCore: Gestión motorizada de ópticas para una transición rápida y automática entre diferentes geometrías de análisis.Óptica de rendijas fijas de divergencia.Colimador de foco puntual de rendijas cruzadas.
-Monocromador de cristal de Ge (220): Diseñado para obtener haces incidentes estrictamente monocromáticos K-alpha1, un componente crucial en análisis que requieren la más alta resolución.

Ópticas de Haz Difractado y Sistemas de Detección:

-Módulo automatizado dCore: Configuración motorizada del camino del haz difractado y del guiado de los componentes ópticos.
-Configuración Triple Eje: Proporciona la máxima resolución angular disponible, fundamental para el análisis preciso de perfiles de línea y la obtención de mapas del espacio recíproco limpios.

Sistema de Triple Detección:

-Detector Empyrean 1der: Optimizado para la supresión eficiente de la fluorescencia de la muestra y una máxima velocidad en la adquisición de datos.
-Detector PIXcel 1D: Detector de estado sólido ultrarrápido, ideal para el registro de mapas del espacio recíproco y estudios cinéticos rápidos.
Detector proporcional sellado de Xenón (Xe): Para configuraciones analíticas tradicionales y medidas específicas de haz paralelo mediante colimador plano.

-Plataforma Portamuestras:Plataforma motorizada de 5 ejes (cuna euleriana con movimientos programables en Phi, Psi, X, Y, Z) ideal para el análisis no destructivo de piezas volumétricas, estudios de orientación y mapeados automatizados de superficie.

Aplicaciones y Servicios Disponibles:

-Análisis de fases avanzado: Identificación cualitativa en todo tipo de materiales y análisis cuantitativo en piezas de morfologías complejas o geometrías no convencionales.
-Películas delgadas (Thin Films): Análisis de fases estructurales mediante difracción en incidencia rasante (GIXRD).
-Reflectometría de rayos X (XRR): Determinación precisa de espesores, rugosidades y densidades en capas y multicapas nanométricas.
-Texturas y Orientación: Medida automatizada de figuras de polos y cálculo de Funciones de Distribución de Orientaciones (ODF).
-Tensiones Residuales: Determinación de tensiones mecánicas tanto por el método de Psi como de Omega en componentes reales y películas delgadas.
-Mapas del Espacio Recíproco de Alta Resolución (HR-RSM): Mapas detallados utilizando el monocromador primario de Ge (220) y la configuración de triple eje para el estudio de deformaciones (strain), relajación, espesores de período y composición en heteroestructuras y monocristales.