UDRX_Difracción de rayos x de polvo por reflexión en cámara de Baja Temperatura
Referencia: UDRX_31_02 Termodifracción BT reflexión
Categoría: Sección de Difracción de Policristal
Medidas de difracción de rayos x de polvo con temperatura controlada desde T ambiente a 15K.
Estas medidas se llevan a cabo en un difractómetro Panalytical X'Pert PRO MPD con goniómetro Th-Th (muestra horizontal fija).
El dispositivo de baja temperatura es un criostato Phenix de Oxford Cryosystems.
Siempre se trabaja en vacío.
Estas medidas se llevan a cabo en un difractómetro Panalytical X'Pert PRO MPD con goniómetro Th-Th (muestra horizontal fija).
El dispositivo de baja temperatura es un criostato Phenix de Oxford Cryosystems.
Siempre se trabaja en vacío.
UDRX_31_02 Difracción de rayos x de polvo en cámara de baja temperatura 
Instrucciones para completar solicitudes de ensayo de la Sección de Policristal Instrumentación
Técnicas
Tarifas
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Ref.: Medida de 1 hora
Tipo de usuario: UCM
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Importe: 12,50€
Unidad de tarificación: < 1 hora
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CAI Técnicas Químicas
Unidad de Difracción de Rayos X
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