Técnicas
- Ablación, desorción/ionización y MALDI láser de muestras sólidas con espectrometría de masas por tiempo de vuelo
- Determinación del contenido en peso de Carbono, Hidrógeno, Nitrógeno y Azufre
- Difracción de rayos X por el método de monocristal
- Difracción de rayos X por el método de polvo
- Elipsometría
- Espectrometría de masas
- Espectrometría de masas acoplada a cromatografía de gases
- Espectrometría de masas acoplada a cromatografía de líquidos
- Espectrometría de masas de alta resolución
- Espectroscopía de correlación fotónica
- Espectroscopía infrarroja
- Espectroscopía láser REMPI
- Espectroscopía Raman
- Fluorescencia de rayos X
- Fotoquímica, fotodisociación y fotofragmentación molecular por cartografía de velocidades con imágenes de iones y fotoelectrones y pulsos láser de nanosegundos y femtosegundos
- Obtención de mapas de sensibilidad de componentes electrónicos mediante irradiación láser de femtosegundos a baja energía
- Producción de materiales nanoestructurados por deposición por láser pulsado de femtosegundos (fsPLD)